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Cassification
更新时间:2026-07-13
浏览次数:28主流机型 SKM-V300B-FHD,放大倍率 10~60 倍连续可调,搭载 1080P 全高清成像,无画面延迟,长时间观测不易视觉疲劳;
超长工作距离设计,最大工作距离可达 338mm,可直接放置大块氧化锆陶瓷、锂电极片、矿石块、电子元器件,无需切割样品;
环形柔光 LED 光源,均匀消除反光,精准识别划痕、毛刺、气孔、烧结缺料、焊点虚焊等立体缺陷;
整机结构坚固、操作极简,开机即投用,产线质检、来料抽检、实验室粗形貌观察通用,替代传统双目体视镜,多人同步观看画面,降低漏检率。
SKM-Z200C-FHD2 六倍连续变焦机型,倍率 85~510 倍,恒定 60mm 工作距离,变焦无需反复调焦,观测粉体颗粒、陶瓷晶界、涂层厚度更高效;
SKM-S31C-PC 高倍率机型,400~1000 倍极限放大,可清晰观测氧化锆粉体晶粒、锂电电极裂纹、固态电解质界面孔隙;
支持 HDMI 直连显示器、USB 连接电脑存储拍照,自带尺寸测量功能,可记录颗粒粒径、微裂纹宽度、涂层厚度数据,留存检测报告。
日企原厂光学调校,成像无拖影低疲劳
区别于市面普通 USB 显微镜普遍存在画面延迟、色彩失真问题,齐藤光学自主开发光学镜头与图像传感器,实时同步成像,长时间观测不易眼疲劳,大幅提升质检人员稳定性,适配锂电、陶瓷工厂 8 小时连续巡检场景。
全系列模块化设计,可配套粉体实验室整套设备
可搭配姬路理化锤式粉碎机、氧化锆研磨缸、高纯石英烧结器皿形成完整工艺链路:原料经粉碎、研磨、烧结后,直接使用齐藤显微镜观测粉体分散均匀度、烧结体内部微裂纹,从原料加工到微观检测统一配套,避免不同品牌设备观测标准不统一带来的数据偏差。
耐粉尘工业机身,适配粉体车间环境
机身密封防尘结构,能抵御陶瓷、锂电粉体扬尘侵入,镜头不易积灰,维护周期更长;LED 光源使用寿命超 2 万小时,长期量产使用综合成本更低。
宽行业适配,多场景一机多用
覆盖新能源锂电(极片毛刺、粉体颗粒、隔膜缺陷)、电子陶瓷(氧化锆 / 氧化铝坯体气孔、MLCC 镀层均匀度)、精密机械(微小零件加工瑕疵)、高校材料实验室、第三方检测机构、半导体晶圆外观初检等领域。
免费样机测试:可携带客户自有陶瓷粉体、锂电样品上机观测演示;
成套方案定制:根据实验室产能、物料特性搭配「粉碎设备 + 氧化锆耗材 + 显微镜」整套工艺方案;
原厂技术支持:提供倍率选型、光源搭配、微观检测标准培训,配套完整日文 / 中文规格书、操作手册。
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