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产品展示/ Product display
可检测各种缺陷如半导体晶片芯片和液晶基板的划痕,不均匀抛光,雾度,表面灰尘,滑移等可照明样品表面范围为400,000Lux以上 是一种用于宏观观察的照明装置 高亮度卤素射镜 YAMADA山田光学 卤素 光源 高亮度 强光灯
2024-01-04
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可检测各种缺陷如半导体晶片芯片和液晶基板的划痕,不均匀抛光,雾度,表面灰尘,滑移等可照明样品表面范围为400,000Lux以上 是一种用于宏观观察的照明装置 高亮度卤素射镜 YAMADA山田光学 晶圆 瑕疵 目视 检查 灯
2024-01-04
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可检测各种缺陷如半导体晶片芯片和液晶基板的划痕,不均匀抛光,雾度,表面灰尘,滑移等可照明样品表面范围为400,000Lux以上 是一种用于宏观观察的照明装置 高亮度卤素射镜 YAMADA山田光学 芯片 液晶 高 亮度 强光灯
2024-01-04
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2024-01-04
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可检测各种缺陷如半导体晶片芯片和液晶基板的划痕,不均匀抛光,雾度,表面灰尘,滑移等可照明样品表面范围为400,000Lux以上 是一种用于宏观观察的照明装置 高亮度卤素射镜 YAMADA山田光学 缺陷检查 晶圆 卤素光源
2024-01-04
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可检测各种缺陷如半导体晶片芯片和液晶基板的划痕,不均匀抛光,雾度,表面灰尘,滑移等可照明样品表面范围为400,000Lux以上 是一种用于宏观观察的照明装置 高亮度卤素射镜 YAMADA山田光学 宏观观察 晶圆 卤素光源
2024-01-04
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可检测各种缺陷如半导体晶片芯片和液晶基板的划痕,不均匀抛光,雾度,表面灰尘,滑移等可照明样品表面范围为400,000Lux以上 是一种用于宏观观察的照明装置 高亮度卤素射镜 YAMADA山田光 小王子 晶圆 卤素光源 装置
2024-01-04
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可检测各种缺陷如半导体晶片芯片和液晶基板的划痕,不均匀抛光,雾度,表面灰尘,滑移等可照明样品表面范围为400,000Lux以上 是一种用于宏观观察的照明装置 高亮度卤素射镜 YAMADA山田光学 聚光灯卤素 光源 强光灯
2024-01-04
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