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Cassification
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可检测各种缺陷如半导体晶片芯片和液晶基板的划痕,不均匀抛光,雾度,表面灰尘,滑移等可照明样品表面范围为400,000Lux以上 是一种用于宏观观察的照明装置 高亮度卤素射镜 YP-250ID YAMADA山田光学高亮度电子镜200V
2025-11-05
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588
可检测各种缺陷如半导体晶片芯片和液晶基板的划痕,不均匀抛光,雾度,表面灰尘,滑移等可照明样品表面范围为400,000Lux以上 是一种用于宏观观察的照明装置 高亮度卤素射镜 YAMADA山田光学YP-150ID卤素强光灯YP-250ID
2025-11-05
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671
可检测各种缺陷如半导体晶片芯片和液晶基板的划痕,不均匀抛光,雾度,表面灰尘,滑移等可照明样品表面范围为400,000Lux以上 是一种用于宏观观察的照明装置 高亮度卤素射镜 YAMADA山田光学 卤素 光源 高亮度 强光灯
2025-10-31
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1843
可检测各种缺陷如半导体晶片芯片和液晶基板的划痕,不均匀抛光,雾度,表面灰尘,滑移等可照明样品表面范围为400,000Lux以上 是一种用于宏观观察的照明装置 高亮度卤素射镜 YAMADA山田光学 晶圆 瑕疵 目视 检查 灯
2025-10-31
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1059
可检测各种缺陷如半导体晶片芯片和液晶基板的划痕,不均匀抛光,雾度,表面灰尘,滑移等可照明样品表面范围为400,000Lux以上 是一种用于宏观观察的照明装置 高亮度卤素射镜 YAMADA山田光学 芯片 液晶 高 亮度 强光灯
2025-10-31
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1033
可检测各种缺陷如半导体晶片芯片和液晶基板的划痕,不均匀抛光,雾度,表面灰尘,滑移等可照明样品表面范围为400,000Lux以上 是一种用于宏观观察的照明装置 高亮度卤素射镜 YAMADA山田光学 芯片 液晶 高亮度 卤素灯
2025-10-31
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1446
可检测各种缺陷如半导体晶片芯片和液晶基板的划痕,不均匀抛光,雾度,表面灰尘,滑移等可照明样品表面范围为400,000Lux以上 是一种用于宏观观察的照明装置 高亮度卤素射镜 YAMADA山田光学 缺陷检查 晶圆 卤素光源
2025-10-31
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1690
可检测各种缺陷如半导体晶片芯片和液晶基板的划痕,不均匀抛光,雾度,表面灰尘,滑移等可照明样品表面范围为400,000Lux以上 是一种用于宏观观察的照明装置 高亮度卤素射镜 YAMADA山田光学 宏观观察 晶圆 卤素光源
2025-10-31
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