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光学系统结构和计算方法，能够获得高度线性的测量结果，而不受色彩的影响。 ■散射光直接检测方式 　　15°前向散射光直接检测方式，减少了样品粒径测量值的影响。 日本表面检查灯小王子红外线近红外卤素光源

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当高强度光照射到物体上时会发生丁达尔现象（*1） ，可以通过目视轻松确认表面的划痕和污垢以及内部的异物和气泡。$n*1：半导体晶圆、掩膜玻璃、硬盘、液晶面板、透镜等！$n表面检查灯目視検査用照明装置LED强光灯

当高强度光照射到物体上时会发生丁达尔现象（*1） ，可以通过目视轻松确认表面的划痕和污垢以及内部的异物和气泡。 *1：半导体晶圆、掩膜玻璃、硬盘、液晶面板、透镜等！ 表面检查灯目視検査用照明装置LED强光灯

当高强度光照射到物体上时会发生丁达尔现象（*1） ，可以通过目视轻松确认表面的划痕和污垢以及内部的异物和气泡。 *1：半导体晶圆、掩膜玻璃、硬盘、液晶面板、透镜等！ 表面检查灯目視検査用照明装置LED强光灯