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超高亮度照明装置表面检查灯UIH-2D 对对象物（※1）照射高亮度的光的话会发生振打现象，表面的伤和垃圾，内部的异物和气泡用目视能容易地确认。 ※1：半导体晶片、掩模玻璃、硬盘、液晶面板、镜头等！

垃圾坑点火监控装置日本表面检查灯 UIH-1C 对对象物（※1）照射高亮度的光的话会发生振打现象，表面的伤和垃圾，内部的异物和气泡用目视能容易地确认。 ※1：半导体晶片、掩模玻璃、硬盘、液晶面板、镜头等！

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光学系统结构和计算方法，能够获得高度线性的测量结果，而不受色彩的影响。 ■散射光直接检测方式 　　15°前向散射光直接检测方式，减少了样品粒径测量值的影响。 日本表面检查灯小王子红外线近红外卤素光源

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