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可检测各种缺陷如半导体晶片芯片和液晶基板的划痕,不均匀抛光,雾度,表面灰尘,滑移等可照明样品表面范围为400,000Lux以上 是一种用于宏观观察的照明装置 高亮度卤素射镜 日本表面 检查灯40WLX 强光灯 光斑30mm
2024-01-04
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可检测各种缺陷如半导体晶片芯片和液晶基板的划痕,不均匀抛光,雾度,表面灰尘,滑移等可照明样品表面范围为400,000Lux以上 是一种用于宏观观察的照明装置 高亮度卤素射镜 表面检查灯40WLX小王子 强光灯 光斑60mm
2024-01-04
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可检测各种缺陷如半导体晶片芯片和液晶基板的划痕,不均匀抛光,雾度,表面灰尘,滑移等可照明样品表面范围为400,000Lux以上 是一种用于宏观观察的照明装置 高亮度卤素射镜 日本表面检查灯 小王子 碳化硅 抛光 晶圆
2024-01-04
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可检测各种缺陷如半导体晶片芯片和液晶基板的划痕,不均匀抛光,雾度,表面灰尘,滑移等可照明样品表面范围为400,000Lux以上是一种用于宏观观察的照明装置 高亮度卤素射镜 日本表面检查灯 晶圆抛光 碳化硅 强光灯
2024-01-04
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