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  • UIH-3D表面检查灯目視検査用照明装置LED强光灯

    当高强度光照射到物体上时会发生丁达尔现象(*1) ,可以通过目视轻松确认表面的划痕和污垢以及内部的异物和气泡。 *1:半导体晶圆、掩膜玻璃、硬盘、液晶面板、透镜等! 表面检查灯目視検査用照明装置LED强光灯

    更新时间

    2023-11-04

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  • UIH-3D表面检查灯LED超高亮度光源卤素灯

    当高强度光照射到物体上时会发生丁达尔现象(*1) ,可以通过目视轻松确认表面的划痕和污垢以及内部的异物和气泡。$n*1:半导体晶圆、掩膜玻璃、硬盘、液晶面板、透镜等!$n表面检查灯LED超高亮度光源卤素灯

    更新时间

    2023-11-22

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    221

  • UIH-2D表面检查灯LED超高亮度光源卤素灯

    当高强度光照射到物体上时会发生丁达尔现象(*1) ,可以通过目视轻松确认表面的划痕和污垢以及内部的异物和气泡。 *1:半导体晶圆、掩膜玻璃、硬盘、液晶面板、透镜等! 表面检查灯LED超高亮度光源卤素灯

    更新时间

    2023-11-04

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    261

  • UIH-1H表面检查灯LED 超高 亮度光源 卤素灯

    当高强度光照射到物体上时会发生丁达尔现象(*1) ,可以通过目视轻松确认表面的划痕和污垢以及内部的异物和气泡。 *1:半导体晶圆、掩膜玻璃、硬盘、液晶面板、透镜等! 表面检查灯LED 超高 亮度光源 卤素灯

    更新时间

    2024-01-04

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    185

  • UIH-1C日本表面检查灯 LED超高 亮度光源 卤素灯

    当高强度光照射到物体上时会发生丁达尔现象(*1) ,可以通过目视轻松确认表面的划痕和污垢以及内部的异物和气泡。 *1:半导体晶圆、掩膜玻璃、硬盘、液晶面板、透镜等! 日本表面检查灯 LED超高 亮度光源 卤素灯

    更新时间

    2024-01-04

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  • FY-18NH日本表面检查灯 小王子 手持式 目视灯 现货

    可检测各种缺陷如半导体晶片芯片和液晶基板的划痕,不均匀抛光,雾度,表面灰尘,滑移等可照明样品表面范围为400,000Lux以上 是一种用于宏观观察的照明装置 高亮度卤素射镜 日本表面检查灯 小王子 手持式 目视灯 现货

    更新时间

    2024-01-04

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    196

  • FY-18LH手持式 日本表面检查灯 碳化硅外观 目视灯

    可检测各种缺陷如半导体晶片芯片和液晶基板的划痕,不均匀抛光,雾度,表面灰尘,滑移等可照明样品表面范围为400,000Lux以上 是一种用于宏观观察的照明装置 高亮度卤素射镜 手持式 日本表面检查灯 碳化硅外观 目视灯

    更新时间

    2024-01-04

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  • YP-150I抛光 碳化硅 日本 表面 检查灯 尺寸30mm用

    可检测各种缺陷如半导体晶片芯片和液晶基板的划痕,不均匀抛光,雾度,表面灰尘,滑移等可照明样品表面范围为400,000Lux以上 是一种用于宏观观察的照明装置 高亮度卤素射镜 抛光 碳化硅 日本 表面 检查灯 尺寸30mm用

    更新时间

    2024-01-04

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