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40WLX强光灯主要用于宏观观察场景中的缺陷检测

更新时间:2026-01-21      浏览次数:8
  40WLX强光灯是一种高亮度卤素光源装置,主要用于宏观观察场景中的缺陷检测,其核心作用是通过提供超高照度照明,辅助检测样品表面的微小缺陷。以下是具体作用分析:
  1. 缺陷检测:精准识别微观表面问题
  检测对象:适用于半导体晶片、液晶基板、光学元件等精密制品的表面检测。
  可识别缺陷类型:
  划痕:高亮度照明下,微小划痕会因光线反射差异被清晰捕捉。
  不均匀抛光:表面凹凸不平导致的光散射差异,在强光下更易显现。
  雾度:材料内部或表面微粒引起的光散射,强光可放大雾度区域的对比度。
  表面灰尘/滑移:微小颗粒或材料移位在超高照度下形成明显阴影。
  照度优势:样品表面照度可达400,000 Lx以上(远超常规照明),确保缺陷无所遁形。
  2. 40WLX强光灯宏观观察:提供稳定锐利的照明环境
  光源特性:
  卤素灯+冷镜设计:色温约3,400K,光线接近自然光,减少色彩失真。
  高稳定性:照明均匀,避免局部过亮或过暗,确保观察结果一致性。
  锐利边缘:光线聚焦性强,可清晰呈现样品边缘轮廓,辅助尺寸测量。
  适用场景:
  工业质检:在生产线或实验室中,快速筛查产品表面缺陷。
  科研分析:为材料科学、光学研究提供高精度观察条件。
  3. 灵活适配:满足多样化检测需求
  照射范围:
  光斑直径:支持30mm至60mm可调,适应不同尺寸样品。
  照射距离:140mm至220mm可调,灵活控制观察视角。
  模块化设计:
  可拆卸部件:测试舱、气路管道等模块支持快速拆卸,便于清洁维护。
  兼容性:可搭配显微镜、摄像头等设备,扩展观察功能。
  4. 40WLX强光灯行业应用:覆盖精密制造与科研领域
  半导体行业:检测晶圆表面划痕、颗粒污染,确保芯片良率。
  液晶显示行业:筛查基板雾度、滑移,提升屏幕显示质量。
  光学元件制造:验证透镜、棱镜表面抛光均匀性,保障光学性能。
  科研机构:为材料表面分析、纳米技术研究提供基础观察工具。
 

 

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