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垃圾坑点火监控装置日本表面检查灯 UIH-1C对对象物(※1)照射高亮度的光的话会发生振打现象,表面的伤和垃圾,内部的异物和气泡用目视能容易地确认。※1:半导体晶片、掩模玻璃、硬盘、液晶面板、镜头等!
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垃圾坑点火监控装置日本表面检查灯 UIH-1C
垃圾坑点火监控装置日本表面检查灯 UIH-1C
点火监视装置(TAM系列)、超高亮度照明装置(UIH-1、UIH-2、UIH-3)、半导体晶片截面形状测量装置(WEMS、VSSW)等测量装置制造现场。
UIH-1C型规格
*1 为了保护灯泡,即使在主电源开关关闭的情况下,仍可通过风扇维持冷却直至灯室内温度降至约 40℃ 以下的功能。
UIH-2D型规格
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