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ULVAC爱发科 精品 手动 高速光谱 椭偏仪透明或半透明薄膜(氧化膜、氮化膜、抗蚀剂、ITO等)的膜厚、折射率、消光系数的测量
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ULVAC爱发科 精品 手动 高速光谱 椭偏仪
ULVAC爱发科 精品 手动 高速光谱 椭偏仪
UNECS系列是一款光谱椭偏仪,可高速、高精度测量薄膜的厚度和折射率。采用测量方法,实现高速测量和紧凑化。我们提供广泛的产品阵容,以适应不同的应用,包括便携式类型、自动平台类型和与真空环境兼容的内置类型。
UNECS-1500M配备了易于操作的手动R-θ平台,兼容φ150mm,使测量定位变得容易。
用途
透明或半透明薄膜(氧化膜、氮化膜、抗蚀剂、ITO等)的膜厚、折射率、消光系数的测量
特征
高速测量:
采用快照方式,实现了最高速度20ms的高速测量。
兼容可见光谱:
波长范围可选择标准型(530nm~750nm)和可见光谱型(380nm~760nm)。
紧凑的传感器单元:
光发射/接收传感器仅由光学元件组成,没有旋转机构,并且非常轻便和紧凑,并且不需要定期维护。
丰富的产品阵容:
我们拥有可适应各种应用的产品阵容,包括便携式类型、手动/自动平台类型、大型基板类型以及与大气/真空环境兼容的内置类型。
波长范围 | 530~750nm、380~760nm(任选其一) | |
光斑直径 | φ1mm、φ0.3mm(任选其一) | |
入射角度 | 70º固定 | |
膜厚再现性 | 1σ = 0.1nm | |
膜厚范围 | 1nm〜2μm | |
测量时间 | 受光:20ms 〜 3000ms 演算:300ms | |
阶段 | φ150mm手动R-θ平台 | |
控制电脑 | 笔记本型(带操作/分析软件) | |
机器构成 | 测量主体(带手动载物台、控制箱)、 光源装置、操作电脑(笔记本电脑型)、使用说明书(CD) |
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